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當前位置：首頁 > 產品中心 > 影像測量機Mitutoyo > CNC 影像測量機 > Hyper QVWLI三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統

簡要描述：三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統。
● 可根據 WLI 光學系統獲取的 3D 數據進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。
還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

  • 產品型號：Hyper QVWLI
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2024-01-17
  • 訪  問  量：1938

詳細介紹

品牌MITUTOYO/三豐價格區間10萬-50萬
產地類別進口應用領域能源,電子,汽車

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統。

● 可根據 WLI 光學系統獲取的 3D 數據進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。還可根據 3D 數據，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統 Hyper QVWLI

規格

型號

項目

Hyper QVWLI 302Hyper QVWLI 404Hyper QVWLI 606

測量范圍

( X × Y × Z )

影像測量300 × 200 × 190 mm400 × 400 × 240 mm600 × 650 × 220 mm
WLI 測量 * 1215 × 200 × 190 mm315 × 400 × 240 mm515 × 650 × 220 mm

WLI 光學測頭裝置

視場 ( H × V )

5X 鏡頭 : 約 0.64 × 0.48 mm/10X 鏡頭 : 約 0.32 × 0.24 mm/

25X 鏡頭 : 約 0.13 × 0.10 mm/50X 鏡頭 : 約 0.064 × 0.048 mm

Z 軸重復性2 σ≤ 0.08 µm
影像光學測頭裝置
觀察裝置程控電動轉塔 1X-2X-6X
圖像傳感器B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像測量

精度 * 2

E 1X /E 1Y( 0.8+2L/1000 ) µm
E 1Z ( 1.5+2L/1000 ) µm
E 2XY( 1.4+3L/1000 ) µm

*1 WLI 光學測頭的可移動范圍。

*2: 按照本公司檢查方法。 L 為任意 2 點間的尺寸 ( mm ) 。

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